概述:
採用CT式雙光柵單色儀和濾色片分光,符合CIE NO.63要求,可測量紫外光-可見光-紅外光(200nm~1700nm)寬波段內光源的光譜功率分佈。尤其適合照明燈具產品及半導體發光元件LED的輻射安全分析。
技術規格 :