概述:
SPR-3000D高速光譜輻射分析儀根據CIE NO.63要求，此光譜儀採用全光譜法測量各種光源及半導體發光元件的光譜、光度、色度，測量速度為10秒(從380nm至780nm)，並可測量光源發光的暫態波形和啟動時的光譜變化曲線。
技術規格 :
- 光譜範圍：350nm~800nm；
- 波長精度：0.2nm；
- 光譜掃描速度：45nm/s；
- 採樣間隔：1nm或5nm；
- 光電檢測：雙通道PMT同步採樣(分別為光譜信號和光強信號)；
- 信號採樣速度：2µs(雙路2MHz高速16bit A/D)；
- 三檔信號自動量程；
- 四檔高壓自動量程；
- 動波形採樣觸發：軟體或外部TTL信號；
- RS-232電腦介面。
