概述：

根據CIE NO.63 的要求測量各種光源的光譜輻射分佈。儀器採用掃描式C-T 光柵單色儀，高靈敏度長波增強型光電倍增管檢測光譜信號。單色儀前加濾色盤進行二重分光，消除光柵二級干擾光譜和雜散光。光學分光部分與掃描傳動機構分層隔離結構、無油污和雜光影響。

技術規格 :

• 原理上滿足 IEC 相關標準及相關國家標準的要求；
• 全光譜法測量光色參數，無 V（λ）修正誤差；
• C-T 光柵單色儀和濾色盤雙重分光，純光譜；
• 採用國際上最先進的日本 HAMAMATSU 的高靈敏度“長波增強型光電倍增管”；
• 最新霍爾敏感技術，波長自動定位；
•  波長精度：0.2nm，重複性：0.1nm；
• 光譜範圍寬：350nm～800nm；
• 靈敏度高、動態範圍寬：2.56×106（固定高壓）、4×1010（可調高壓）；
• 採樣頻寬： 5nm，比較特殊的要求可以做成1nm，0.1nm；
• 光度線性：0.25%；
• 光度探測器：一級；
• 光度準確度：一級 （全範圍）；
• 光通量：0.01lm～1.999×105lm （配合適當積分球）；
• 色度重複性（色品座標準確度）：0.00015；、
• 色溫測量範圍：1500K～30000K；
• RS-232C 標準介面，方便與各種設備連接；
• 標準中、英文操作介面，符合國際化要求。