概述：
測量PDP螢光粉在147.0nm、172nm真空紫外輻照激發下的發光光譜功率分佈、譜線帶寬、峰值波長、發光亮度、色品坐標、顏色純度和主波長等參數；測量PDP螢光粉的發光餘輝波形曲線、有效餘輝時間，以及螢光粉在VUV輻照下的光衰特性。
技術規格：
- 採用專利技術，快速、簡便地測試PDP螢光粉的亮度、色度、餘輝等全部光學參數；
- 可分別測量147nm和172nm單一譜線激發下的發光性能分析PDP的放電與螢光粉匹配參數；
- 激發光源：模擬PDP像元發光特性的真空紫外放電管；
- 光譜範圍：350nm～800nm（或200nm～800nm）；
- 餘輝時間：0.1ms～1s；
- 餘輝分辨率：0.1ms（可擴展至1μs）。
