光學儀器 > 光學教學實驗儀器 > OE-1180 雷射散斑橫向微小位移實驗
產品名稱：OE-1180 雷射散斑橫向微小位移實驗
觀察鐳射散斑圖，了解散斑的形成原因和特點。 掌握二次曝光測量微小位移的方法和原理。 通過實際測量，驗證位移量與散斑圖像的關係公式。

實驗內容及相關科目：

  • 觀察鐳射散斑圖，了解散斑的形成原因和特點。
  • 掌握二次曝光測量微小位移的方法和原理。
  • 通過實際測量，驗證位移量與散斑圖像的關係公式。

 

儀器特點：

  • 採用半導體雷射器作為光源（650nm、4mW）。
  • 自行搭制光路拍散斑圖，並對散斑圖像進行測量、分析。
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