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產品名稱:OE-1190 多光束的干涉(F-P掃描干涉儀)實驗

調整兩個反射鏡之間的位置,使之平行,成為F-P干涉儀。 觀察雷射在F-P干涉儀中的多光束干涉現象,瞭解F-P干涉儀的工作原理和理論。 改變腔長,測量計算干涉儀的特徵參數。用壓電陶瓷微調兩個反射鏡的間距,觀察其對透射光波長的掃描特性,瞭解掃描干涉儀的工作原理,觀察雷射器的頻率特性,測量計算干涉儀的特徵參數。

實驗內容及相關科目:

  • 調整兩個反射鏡之間的位置,使之平行,成為F-P干涉儀。
  • 觀察雷射在F-P干涉儀中的多光束干涉現象,瞭解F-P干涉儀的工作原理和理論。
  • 改變腔長,測量計算干涉儀的特徵參數。用壓電陶瓷微調兩個反射鏡的間距,觀察其對透射光波長的掃描特性,瞭解掃描干涉儀的工作原理,觀察雷射器的頻率特性,測量計算干涉儀的特徵參數。

 

儀器特點:

  • 可調的干涉儀腔長便於研究腔長對參數的的影響。
  • 氦氖雷射器輸出功率≥0.7mW 工作電流5mA。
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