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產品名稱：OE-1240 光纖干涉儀實驗
光纖端面的處理及與雷射的耦合。 以光纖為相干光傳輸路徑，搭制馬赫-曾德爾干涉儀，並通過CCD觀察干涉條紋。 測量溫度變化對干涉條紋的影響。

實驗內容及相關科目：

  • 光纖端面的處理及與雷射的耦合。
  • 以光纖為相干光傳輸路徑，搭制馬赫-曾德爾干涉儀，並通過CCD觀察干涉條紋。
  • 測量溫度變化對干涉條紋的影響。

 

儀器特點：

  • 通過CCD進行圖像採集。
  • 採用半導體雷射器（650nm、4mW）作為光源。
  • 採用半導體製冷器進行溫度調整和控制，溫控範圍：10℃-40℃。
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