光學儀器 > 光學教學實驗儀器 > OE-1270 雷射位移計-CCD的工作原理與應用實驗
產品名稱：OE-1270 雷射位移計-CCD的工作原理與應用實驗
陣列CCD的工作原理、驅動原理和特性，積分時間。 光電信號的調理。 信號的二值化和微分。 陣列CCD在尺寸測量領域的應用。 雷射位移計的工作原理。

實驗內容及相關科目：

  • 陣列CCD的工作原理、驅動原理和特性，積分時間。
  • 光電信號的調理。
  • 信號的二值化和微分。
  • 陣列CCD在尺寸測量領域的應用。
  • 雷射位移計的工作原理。

 

儀器特點：

  • 驅動時序電路可調，可觀察驅動信號、積分時間對採集信號的影響。
  • 可對圖元逐個記數，體會測量原理。
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