概述:

本套系統的基本配置包含各種光源、透鏡、各種縫、光柵、棱鏡、偏振片、反射鏡、波片、光功率計等33種40餘套（個）光學、機械附件以及光學實驗平台和磁性底座，可開出幾何光學、晶體光學、偏振光學、相干光學、傅立葉光學等5 大類30餘種實驗。

實驗內容及相關科目：

1. 透鏡成像。

2. 貝塞爾法測焦距。

3. 自准直法測焦距。

4. 球差、色差。

5. 景深。

6. 組合顯微鏡。

7. 組合望遠鏡(二種)。

8. 組合投影儀。

9. 光的橫波特性。

10. 馬呂斯定律。

11. 1/4波片、1/2波片。

12. 石英的旋光特性。

13. 旋光顯色。

14. 會聚偏振光的干涉(白光、雷射)。

15. 半導體雷射的偏振特性。

16. 雙棱鏡干涉。

17. 縫的衍射。

18. θ調製(假彩色編碼)。

19. 阿貝一波特實驗(空間頻譜濾波)。

20. 卷積的物理演示。

21. 組合邁克爾遜干涉儀。

22. 組合馬赫—曾德爾干涉儀。

23. 組合薩格奈克干涉儀。

24. 空氣壓強與折射率的關係測量。

25. 拍攝反射式全息圖、透射式全息圖。

26. 雷射的擴束。

27. 光柵特性的研究

28. 細絲直徑的測量

系統特點：

• 系統開放、內容豐富、組合靈活。
• 開放的系統，使使用者可根據情況，增減附件，使系統功能更加實用和強大。
• 豐富的實驗內容，幾乎覆蓋了基礎光學的各個領域。
• 豐富的附件，靈活的組合，使使用者能夠根據自己的設計，開發出更具特色的實驗。